x-R―质控图
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此质控图又称均值—范围质控图,是Levey—Jennings最初引进的方法。这也是工业生产中常用的一种控制图。
Levey��Jennings是用单份质控品作双份测定,连续测定20次,共20对测定值。计算每对数值的均值(x)及极差(R),再计算总均数(x)及平均极差(R),然后绘制x及R两个质控图。前者以x为中心线,以x±1.88R为上、下控制界限;后者以R为中心线,以0为控制下限,R×3.27为控制上限。这种质控图的优点是可区分均值变异(x图)及精密度变异(R图)。表1为x-R质控图绘制方法示例
步骤1.整理数据,列表
步骤2.计算
总均值(x)=(144+146+142+————————————————+146)/20=73.25
极差(R)=max{x}-min{x}
极差均值(R)=(4+2+2+————————————+2)/20=2.85
步骤3.确定控制界限
x控制图
UCL(Upper contor limit)=x+A2R=73.25+1.8undefined2.85=78.10
LCL(Lower contor limit)=x-A2R=67.89
CL(Center limit)=x=73.25
R控制图
UCL=D4R=3.2undefined2.85=9.32
LCL=D3R=0
Cl=R=2.85
(n为每批检测时应用同浓度质控品的个数)
步骤4.根据一表1及步骤3提供的数据绘制质控图(略)。